可测电阻率：锗晶体0.1-100Ω·cm可测锗锭尺寸：Z大长度700mm；Z大高度50mm；Z大宽度60mm。

电阻率测试仪 两探针测试仪 测锗锭 电阻率检测仪

型号:DL04-KDY-2                     

主机技术参数

（1）测量范围：

可测电阻率：锗晶体0.1-100Ω·cm

可测锗锭尺寸：zui大长度700mm；zui大高度50mm；zui大宽度60mm。

（2）恒流源：

输出电流：DC 0.004-100mA 五档连续可调

量程：0.004-0.01mA

0.04-0.10mA

0.4-1.0mA

4.0-10mA

40-100mA

恒流精度：各档均优于±0.05%

（3）直流数字电压表：

测量范围：0-199.99mV

灵敏度：10μA

基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）

输入阻抗：≥1000MΩ

（4）电阻测量误差：≤0.3%

（5）两探针头：KDT-5

探针间距：10.00±0.02mm

游移率：0.02-0.05%

探针压力：4±1N/单针

（6）供电电源：

AC 220V ±10% 50/60Hz 功率：12W

（7）使用环境：

温度：23±2℃ 相对温度：≤65%

无较强的电场干扰，无强光直接照射。

（8）重量、体积：

主机重量：7.5Kg

体积：390×340×190（单位：mm 长度×宽度×高度）

北京北信未来电子科技中心

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：王华

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