数字式四探针测试计四探针测试计半导体四探针检测仪

产品简介：

测量范围电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω 可测半导体材料尺寸直径：Φ15～100mm；长（或高）度： ≤400mm

产品型号：DL10-1934B

更新时间：2024-05-21

厂商性质：生产厂家

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产品介绍

数字式四探针测试计四探针测试计半导体四探针检测仪

型号:DL10-1934B

测量范围

电阻率：10-2～102Ω-cm；

方块电阻：10-1～103Ω/□；

电阻：10-3～9999Ω

可测半导体材料尺寸

直径：Φ15～100mm；

长（或高）度： ≤400mm

外形尺寸

主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）

电源

功耗：<1W；

电源适配器：

输入:220V±10% 50Hz；

输出:DC5V±10%

北京北信未来电子科技中心

：王华

：

：www.lcs168.com

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