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产品型号:BX-G105
更新时间:2024-05-15
厂商性质:生产厂家
访问量:1320
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椭偏仪设备 椭偏仪 激光度仪器 椭偏仪测量 便携式椭偏仪
产品用途:教学椭偏仪
BX-G105 自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏")测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。BX-G105仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 BX-G105仪器还可用于同时测量块状材料(如,金属、半导体、介质)的折射率n和消光系数k。
仪器特点:教学椭偏仪
1. 经典消光法椭偏测量原理:仪器采用消光法椭偏测量原理,易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程
2. 方便安全的样品水平放置方式:才用水平放置样品的方式,方便样品的取放
3. 紧凑的一体化结构:集成一体化设计,简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连,方便仪器使用
4. 高准确性的激光光源:采用激光作为探测光波,测量波长准确度高
5. 丰富实用的样品测量功能:可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率等
6. 便捷的自动化操作:仪器软件可自动完成样品测量,并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作
7. 安全的用户使用权限管理:软件中设置了用户使用权限(包括:管理员、操作者等模式),便于仪器管理和使用
8. 可扩展的仪器功能上:利用本仪器,可通过适当扩展,完成多项偏振测量实验,如马吕斯定律实验、旋光测量实验、旋光等