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产品型号:BX-Y1228B
更新时间:2024-05-15
厂商性质:生产厂家
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四探针测试仪 探针测试机 半自动四探针测试仪 数字四探针测试仪 四侦针触屏测试仪
产品用途:半自动四探针触屏测试仪
四点探针标准测试方法,采用步进系统自动控制探头与样品接触,减少人为因素对测试结果的影响;参照A.S.T.M 标准;测量方块电阻、电阻率、电导率数据、PC软件采集和数据处理实现自动点测模式或手动点测模式,同一位置的重复测试或多点的面电阻测量,报表输出数据统计分析;提供标准校准电阻件.
仪器特点:半自动四探针触屏测试仪
晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等.
技术参数:
规格型号 | BX-Y1228B |
1.电阻 | 10-4~1×107Ω |
2.方块电阻 | 10-4~1×107Ω/□ |
3.电阻率 | 10-5~2×108Ω-cm |
4.测试电流 | 10mA ---200pA |
5.电流精度 | ±2% |
6.电阻精度 | ≤10% |
7.PC软件操作 | PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、数据管理分析:过程数据,大、小值,均值,方差,变异系数,样品编号,测试点数统计报表生成等 |
8.探针范围选购: | 探针压力为100-550g;依据样品接触需要手动调节 |
9.探针 | 针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3% 圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制 |
10.可测晶片 尺寸选购 | 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm); 方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm |
11.分析模式 | 自动或手动单点模式 |
12.加压方式 | 测量重复性:重复性≤3% |
13.防护功能 | 具有限位量程和压力保护;误操作和急停防护;异常警报 |
14.测试环境 | 实验室环境 |
15.电源 | 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<100W |
16.选购项目 | 电脑和打印机 |