1600高温四探针双电组合电阻率测试仪用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。

2.电阻率范围

10^-5～2×10^8Ω-cm

3.测试电流范围

10mA ---200pA

4.电流精度

±2%

5.电阻精度

≤10%

PC软件界面

显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

双电测量

8.四探针仪工作电源

AC 220V±10%.50Hz  <30W

9.误差

≤15%

10.温度(选购)

常温--200℃;400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃

11.气氛保护（气体客户自备）

常用气体如下：氦(He)、氖(Ne)、氩(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均为无色、无臭、气态的单原子分子

12.温度精度

冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C

13.升温速度：

常温开始400℃--800℃需要15分钟；800℃-1200℃需要30分钟；1400℃-1600℃需要250分钟—300分钟

14.高温材料

采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征

15.PC软件

测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！

16.电极（探针）材料标配 

钨电极或钼电极+电极（探针）陶瓷管 +高温陶瓷样品台，1套.

17.探针间距

直线型探针，探针间距：4mm；

18.样品要求

样品长度要求≥13mm  样品宽≥2mm或直径≥13mm

19.高温电源：

供电：400-1200℃ 电源220V，功率2-4KW；380V;1400℃-1600℃电源380V；功率4-6KW：

20.标配外（选购）：

a电脑和打印机1套；b.标准电阻1-5个；

c.S型铂铑探针电极（温度范围：200-1300度）；

d.B型铂铑探针电极（温度范围：1400-1600度）