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  • BX-Y1246B600高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1246B600高温四探针双电组合电阻率测试仪

    产品型号

    BX-Y1246B

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2024-05-15

    浏览次数

    1468

    产品描述

    600高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
  • BX-Y1246C800高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1246C800高温四探针双电组合电阻率测试仪

    产品型号

    BX-Y1246C

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2024-05-15

    浏览次数

    1135

    产品描述

    800高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
  • BX-Y1246D1000高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1246D1000高温四探针双电组合电阻率测试仪

    产品型号

    BX-Y1246D

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2024-05-15

    浏览次数

    1209

    产品描述

    1000高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
  • BX-Y1246E1200高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1246E1200高温四探针双电组合电阻率测试仪

    产品型号

    BX-Y1246E

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2024-05-15

    浏览次数

    1005

    产品描述

    1200高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
  • BX-Y1246F1400高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1246F1400高温四探针双电组合电阻率测试仪

    产品型号

    BX-Y1246F

    厂商性质

    生产厂家

    更新时间

    2024-05-15

    浏览次数

    1172

    产品描述

    1400高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
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