紫外广义光谱椭偏仪针对科研和工业环境推出的高精度快速摄谱型广义光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 广义光谱椭偏仪采用宽带超消色差补偿器、利用步进补偿器扫描测量采样模式、基于高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，用于测量纳米薄膜样品、块状材料和各向异性材料。

关键词：

光谱椭偏仪   紫外可见光谱仪器   紫外光谱分析仪   椭偏仪测试   椭偏仪检测

产品用途：紫外广义光谱椭偏仪

   BX-G102系列针对科研和工业环境推出的高精度快速摄谱型广义光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 广义光谱椭偏仪采用宽带超消色差补偿器、利用步进补偿器扫描测量采样模式、基于高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，用于测量纳米薄膜样品、块状材料和各向异性材料。

仪器特点：紫外广义光谱椭偏仪

1. *的双旋转补偿器测量技术：可测量样品的Muller矩阵的全部16个元素

2. 秒级的全光谱测量速度：全光谱测量典型10秒

3. 原子层量级的检测灵敏度：可以测量单原子层

4. 视频式样品对准：精确完成样品对准，并方便观察，减小人为误差

5. 入射角和反射角可以单独调节：独立多入射角度结构设计，增强了仪器测量的灵活性。适用于反射、透射、散射样品的测量场合

6. 一键式仪器操作：对于常规操作，只需要鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求

技术参数：